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深圳立仪科技有限公司

Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd

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高速线激光位移传感器
光谱共焦位移传感器 D40A19 系列镜头

性能特性与D40A17相近，长度略长，角度性能更大直径40mm，适中尺寸可满足大多数安装场景此款拥有90度出光镜头版本，可用测量侧面尺寸
光谱共焦位移传感器 D40A17 系列镜头

直径40mm，适中尺寸可满足大多数安装场景此款拥有90度出光镜头版本，可用测量侧面尺寸大光斑精度中上，长工作距离，量程适中，是一款通用型号 D40系列中长度尺寸最短的型号，适用于对长度尺寸有要求的应用场景
线光谱共焦位移传感器

同轴检测不限材质兼容性±20°，支持透明、镜面、高反光等不同材质表面的高精度3D测量。微米级检测精度超高测量性能，实现微米级形貌测量精度。丰富的算法功能采用高速数据处理算法，可测量高速的生产工艺。
线激光位移传感器3D工业视觉传感器

LS系列3D智能传感器 3D成像算法在芯片集成，实现高速度、高性能、高精准测量重复精度可达0.1um 产品的性能指标优异，实现进口品牌精准替代 LS系列产品应用场景产品广泛应用于消费电子制造、新能源锂电、光伏产业、汽车制造、钣金加工、木材加工、食品饮料等领域标准连接器，满足IP67防护等级防护等级达到IP67，防护灰尘进入，防护短暂浸泡超高速 2500帧全视野范围采样速率，可达56000帧小景深视野采样速率可同时输出深度图和亮度图，满足高速产线的检测要求高精度测量 4K物理轮廓点数X方向，深度图模式下X方向任意点间距重采样，可达8K点数据输出每轮廓。定制化的系列线激光模组可根据用户场景需求采用不同的激光波长405nm蓝紫光中小视野可获得更高精度
光谱仪（规划中）
C2-TP02 膜厚仪

立仪科技基于公司特有的一款光谱共焦位移传感器，并采用超高精密运动平台驱动其进行在线扫描，开发出一种非接触式、无损的、且快速的光学膜厚测量系统。可以用于测量各种薄膜厚度、油墨银浆厚度、LTCC/MLCC湿膜、厚膜电阻行业膜厚、太阳能行业膜厚、透明胶水厚度等，专门解决工业膜厚测量的问题，改善工艺和提高生产效率和质量。
HM-S100半自动检测系统

1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样，最快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
白光干涉仪

该产品由膜厚仪主机、上位机 PC 软件、光纤组成。用一束准单色平行光照射多层薄膜，光波会在第 1 到 n 层之间来回多次折射、反射进而形成多个相干光束。这些相干光束进行相干叠加后，携带多层薄膜的相干信号并沿原路返回。不同波长的准单色光照射薄膜后，携带的干涉信号不一样。如果用一束含有多种波长的准单色光照射薄膜后，提取各个波段的干涉信号，通过 OCD 自主知识产权的算法进行反演计算，便可获得每一层薄膜材料...

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